Zielorientierte Methodiken zum Bestehen der Europäischen Eignungsprüfung (EEP): Patentrechtliche Grundlagen für Teile A, B, C, D; Principles of Patent Law for Parts A, B, C, D

Zum WerkF r alle Teilnehmer der Europ ischen Eignungspr fung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D. Alle pr fungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt. Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt.Besonders hilfreich: Immer dort, wo es f r die Methodiken n tig ist, sind auch patentrechtliche Grundlagen erl utert. Dabei wird jeweils auf Gesetze, Rechtsprechung und Pr fungsrichtlinien verwiesen.Vorteile auf einen Blick- Schritt-f r-Schritt Vorgehensweisen- Zeitangaben pro Bearbeitungsschritt- Details der Punktevergabe- Pr fungsschemata f r patentrechtliche Fragen- Formulierungsvorschl ge und ganze Textpassagen- Tabellen als Bearbeitungshilfen- praktische Tipps f r die Pr fungZielgruppe:F r Teilnehmer der Europ ischen Eignungspr fung.